CLJ-E型半導體激光塵埃粒子計數(shù)器

CLJ-E型半導體激光塵埃粒子計數(shù)器（LED顯示）
      該系列儀器的技術指標均滿足JJF1190-2008塵埃粒子計數(shù)器計量校準規(guī)范的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數(shù)，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。該系列儀器性能設計、質量穩(wěn)定可靠

　　該系列產(chǎn)品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現(xiàn)場檢測、撿漏；可監(jiān)測超凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統(tǒng)，計算機室、飲料包裝環(huán)境，醫(yī)療器械生產(chǎn)環(huán)境，醫(yī)院潔凈手術室，汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產(chǎn)和科研部門，是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范及電子生產(chǎn)企業(yè)的儀器。
CLJ-E型半導體激光塵埃粒子計數(shù)器
主要技術參數(shù)及性能：
1.光源:全半導體激光光源
2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍:100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道:0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期:1～10 (min)
8.自凈時間:≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協(xié)會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環(huán)境:溫度:10～35℃ 相對溫度:20～75%RH
11.大功耗:25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2～7點設定
14.每點采樣次數(shù) 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸:260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注:內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
(溫濕度探頭為選購件)